PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中，難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵，再加上PCB線路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn)，若未能及時(shí)將不良板篩檢出來(lái)，而任其流入制程中，勢(shì)必會(huì)造成更多的成本浪費(fèi)，因此除了制程控制的改善外，提高測(cè)試的技術(shù)也是可以為PCB板制造者提供降低報(bào)廢率及提升產(chǎn)品良率的解決方案。下面深亞pcb帶大家一起了解一下，什么是飛測(cè)，什么是電測(cè)。

電性測(cè)試的方法有：專用型(Dedicated)、泛用型(UniversalGrid)、飛針型(FlyingProbe)、非接觸電子束(E-Beam)、導(dǎo)電布(膠)、電容式(Capacity)及刷測(cè)(ATG-SCANMAN)，其中最常使用的設(shè)備有三種，分別是專用測(cè)試機(jī)(PCB自動(dòng)通用測(cè)試機(jī))、高品質(zhì)泛用測(cè)試機(jī)及飛針測(cè)試機(jī)。

飛針測(cè)試機(jī)

首先，在測(cè)試技術(shù)的適用目的方面，飛針測(cè)試是目前最適合使用于小量產(chǎn)及樣品的電性測(cè)試設(shè)備，但是若要運(yùn)用于中大量產(chǎn)時(shí)，則由于測(cè)速慢以及設(shè)備價(jià)格昂貴，將會(huì)使得測(cè)試成本大幅提高，而泛用型及專用型無(wú)論是用于何種層級(jí)的PCB板子，只要產(chǎn)量達(dá)到一定的數(shù)量，測(cè)試成本均可達(dá)到規(guī)模經(jīng)濟(jì)的標(biāo)淮，而且約只占售價(jià)的2~4%，這也是為何泛用型及專用型為目前量產(chǎn)型的測(cè)試機(jī)種的主要原因。

飛針式測(cè)試儀是對(duì)傳統(tǒng)針床在線自動(dòng)高壓專用PCB板測(cè)試機(jī)的一種改進(jìn)，它用探針來(lái)代替針床，在X-Y機(jī)構(gòu)上裝有可分別高速移動(dòng)的4個(gè)頭共8根測(cè)試探針，最小測(cè)試間隙為0.2mm。

工作時(shí)在測(cè)單元(UUT)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)，然后固定測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(TESTpad)和通路孔(via)，從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器和傳感器來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測(cè)試機(jī)可檢查短路、開路和元件值。在飛針測(cè)試上也使用了一個(gè)相機(jī)來(lái)幫助查找丟失元件。用相機(jī)來(lái)檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。

隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測(cè)試機(jī)可精密地探測(cè)UUT。飛針測(cè)試解決了在PCB線路板裝配中見到的大量現(xiàn)有問(wèn)題：如可能長(zhǎng)達(dá)4-6周的測(cè)試開發(fā)周期；不能經(jīng)濟(jì)地測(cè)試小批量生產(chǎn)；以及不能快速地測(cè)試原型樣機(jī)裝配。

飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB板電性功能的方法(開短路測(cè)試)之一。飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB線路板的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面，飛針測(cè)試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針，移動(dòng)到測(cè)試中的元件。在測(cè)單元(UUT,unitundertest)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)。然后固定，測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(testpad)和通路孔(via)從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測(cè)試和測(cè)試架有什么區(qū)別？各自的優(yōu)勢(shì)是什么？應(yīng)該選擇哪種測(cè)試？

飛針測(cè)試：是利用4支探針對(duì)線路板進(jìn)行高壓絕緣和低阻值導(dǎo)通測(cè)試（測(cè)試線路的開路和短路）而不需要做測(cè)試治具，直接裝PCB板運(yùn)行測(cè)試程序即可測(cè)試極為方便，節(jié)約了測(cè)試成本，減去了制作測(cè)試架的時(shí)間，提高了出貨的效率，適合測(cè)試小批量及樣板。

而測(cè)試架，是針對(duì)量產(chǎn)的PCB板進(jìn)行通斷測(cè)試而做的專門的測(cè)試夾具，制作成本較高，但測(cè)試效率較好，返單不收費(fèi)。